时间:2022-08-02
作者:海洋之神590官网入口
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简介:
种子及种苗形态结构、活力、适合度、抗逆性、胁迫敏感性、心理生化指标等是作物种质资源品质监测评估的主要指标系统,,,,,,,,其中种子活力是种子抽芽和出苗率、幼苗生长的潜势、植株抗逆能力和生产潜力的总和(抽芽和出苗时代的活性水平与行为),,,,,,,,是种子品质的主要指标,,,,,,,,详细包括吸涨后兴旺的代谢强度、出苗能力、抗逆性、抽芽速率及同步性、幼苗发育与产量潜力。。。。。种子活力是植物的主要表型特征,,,,,,,,古板检测要领包括低温测试(cold test)、高温加速朽迈测试(accelerated aging test)、幼苗生长测定等。。。。。
PhenoTron?-HSI种质资源高光谱成像剖析系统,,,,,,,,是海洋之神590官网入口公司推出的可用于种质资源检测判断、种子活力检测、种质资源表型性状监测评估的高光谱成像剖析系统,,,,,,,,具备快速、非损伤、高通量特点。。。。�????????捎τ糜谥肿印⒂酌缂案档戎种首试幢硇托宰闯上衿饰觥⒁堵趟赜獬上窦觳狻⒋渭洞徊酚獬上衿饰觥⒅肿踊盍觳狻⒁蛩睾科饰觥⒅种首试葱宰醇嗖馄拦赖�,,,,,,,,还可应用于杂质检测、病原体检测、因素检测、种质资源数字化、种苗(包括根系)成像剖析、遗传育种性状检测与抗性筛选等。。。。。

左图:PhenoTron?-HSI高光谱成像剖析系统;;;;;;;右图:绿豆萌发高光谱成像剖析
产品特点

上图为彩色玉米及UV-MCF荧光成像,,,,,,,,下图为抽芽土豆荧光光谱
手艺指标
| 型号 |
PhenoTron-FX10 |
PhenoTron-FX10/17 |
PhenoTron-sCMOS |
PhenoTron-SWIR |
| 波段规模 |
400-1000nm |
400-1700nm |
400-1000nm |
1000-2500nm |
| 光谱区分率 |
5.5nm |
5.5nm / 8nm |
2.9nm |
12nm |
| 光谱通道 |
224(bin=2) |
224(bin=2)/ 224 |
946 |
288 |
| 空间像素 |
1024 |
1024 / 640 |
2184 |
384 |
| 信噪比 |
400:1 |
400:1 / 1000:1 |
170:1-680:1 |
1050:1 |
| 数值孔径 |
F/1.7 |
F/1.7 |
F/2.4 |
F/2.0 |
| 帧频 |
330FPS |
330FPS / 670FPS |
100FPS |
450FPS |
| UV-MCF-M |
可选配 |
可选配 |
可选配 |
不可选配 |
a)可举行伪彩色/灰度显示、波段融合、ROI选区、光谱指数剖析、光谱曲线绘制、光谱特征统计、直方图统计、效果图/表导出等;;;;;;;
b)可剖析NDVI、PRI、DCNI、CRI、ARI、PSRI、NPQI、EVI、HI、WBI等数十种VIs参数,,,,,,,,研究植物表型及结构信息、生物及非生物胁迫、色素含量、理化性状、种质、中药材及果实品种品质等指标;;;;;;;
a)基天职析:具备伪彩色/灰度显示、旋转显示、阈值掩膜、波段融合、手动/自动ROI剖析、光谱曲线绘制、光谱平滑、光谱特征统计、路径剖析、图/表导出等功效;;;;;;;
b)荧光参数剖析:可剖析F440、F520、F690、F740、F690/F740、F520/F690、F735/F700、F440/F520、F440/F690、F440/F740等多种荧光参数,,,,,,,,支持扩展;;;;;;;
c)形态参数剖析:可剖析色素或校准面积、圆滑度(Circularity)、长宽比(Aspect ratio)、紧实度(Solidity)、圆度(Roundness)等;;;;;;;

从左至右依次为:FluorVision?软件剖析界面;;;;;;;BGF图;;;;;;;叶绿素荧光图
应用案例
(1)绿豆种子豆象侵染检测

豆象侵染绿豆种子的光谱成像:900-1700nm高光谱成像剖析(左图);;;;;;;红外热成像图(右图)
(海洋之神590官网入口光谱成像实验室供图)
(2)种苗早期生长阶段表型剖析

绿豆种苗早期生长阶段叶绿素漫衍及康健性状可视化表达(海洋之神590官网入口光谱成像实验室供图)
(3)玉米种子活力检测

左图为微波热处置惩罚种子和比照组(未处置惩罚)玉米种子短波红外光谱;;;;;;;右图为微波热处置惩罚种子(老化处置惩罚)和正常玉米种子(未处置惩罚)剖析效果,,,,,,,,自上而下第一和第三排为正常种子、第二和第四排为微波热处置惩罚种子。。。。。引自:Collins Wakholi, Lalit Mohan Kandpal, Hoonsoo Lee, Hyungjin Bae, Eunsoo Park, Moon S.Kim, Changyeun Mo, Wang-Hee Lee, Byoung- Kwan Cho, Rapid assessment of corn seed viability using short wave infrared line-scan hyperspectral imaging and chemometrics, Sensors and Actuators B: Chemical http://dx.doi.org/10.1016/j.snb.2017.08.036
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